La degradación inducida por la luz o en inglés Light Induced Degradation (LID) es un fenómeno de degradación que provoca una caída de potencia en los módulos fotovoltaicos frente a las primeras horas de exposición a la luz solar y que afecta el rendimiento real con respecto a los datos finales de las pruebas flash de fábrica proporcionados por los fabricantes de módulos fotovoltaicos en STC (Standard Test Conditions).

El efecto de degradación, se debe a trazas de Oxígeno incluidas en el Silicio fundido durante el método de fabricación o proceso Czochralski. Los complejos de boro-oxígeno generan sus propios niveles de energía en la red de silicio y pueden capturar electrones y huecos que se pierden por el efecto fotovoltaico.

Podemos ver a continuación un gráfico de vida de un módulo fotovoltaico. La información indica que por cada año el módulo perderá capacidad nominal producto del envejecimiento; sin embargo, en el primer año hay una perdida acentuada, que para este ejemplo de 2,5 %. De esta forma es como podemos identificar el valor de degradación del módulo por el efecto LID y utilizarlos en nuestras proyecciones.